发布单位：苏州特斯特电子科技有限公司 发布时间：2022-5-10
失效分析是对所有检验、筛选、以及在电子系统上失效的元器件进行的以检测元器件(或半产品)不能正常工作(失去某种功能)原因为目的的一系列试验。失效分析是在发现元器件失效后进行的查找原因的过程，是以判别责任或改进工艺为目的的。
其中dpa和失效分析，都需要对塑封器件进行开封，不同于密封器件，塑封器件的芯片不是在空腔中，而是被塑封材料整个包裹住。因此，开封的这一步很关键。如何选择合理有效的开封方法---。
芯片开封中常用酸有那些：高分子的树脂体在热的浓（98%）或作用下，被腐去变成易溶于的低分子化合物，在超声作用下，低分子化合物被清洗掉，从而露出芯片表层。芯片开封中常用酸有：：这里指98%的,它有---的脱水性,吸水性和氧化性。开帽时用来---煮大量的产品，这里利用了它的脱水性和强氧化性。浓---：指37%（v/v）的---，有---的挥发性，氧化性。分析中用来去除芯片上的铝层。：指浓度为98%（v/v）的。用来开帽。有---的挥发性，氧化性，因溶有no2而呈红褐色。王水：指一体积浓和三体积浓---的混合物。分析中用来腐金球，因它腐蚀性很强可腐蚀金。激光开封机介绍：激光开封机是用来将元器件开封，即使用激光开封机去除元器件塑封料，近两年年铜线产品变多，客户对开封要求越来越高，导致激光开封机需求应运而生，其安全方便，---性---特点---客户喜欢。laser control 是一家---从事失效分析开封设备的美国公司，有着30多年自动开封研发制造历史。作为自动塑封开封技术的, 可以提供的产品,方法和技术支持来满足所有半导体器件的开封要求。control laser公司承诺提供---的，高的产品来满足半导体器件失效性分析领域内不断变化的需求。
control laser 新产品激光开封设备fa lit系列。半导体业的铜引线封装越来越成为发展主流，传统的化学开封已无法完全满足铜引线封装的开封要求。fa lit的诞生给分析领域带来了新的技术。
