




emmi可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流,包括闸极氧化层缺陷(gate oxide defects)、静电放电破坏(esd failure)、闩锁效应(l---h up)、漏电(leakage)、接面漏电(junction leakage) 、顺向偏压(forward bias)及在饱和区域操作的晶体管,可藉由emmi定位,找---(hot spot 或找亮点)位置,进而得知缺陷原因,帮助后续进一步的失效分析。

超声波显微镜在失效分析中的应用
晶圆面---层缺陷 锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)。超声波显微镜的在失效分析中的优势非破坏性、无损检测材料或ic芯片内部结构 可分层扫描、多层扫描 实施、直观的图像及分析 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计 可显示材料内部的三维图像 对人体是没有伤害的 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)

体视显微镜om无损检测
体视显微镜,激光开封机厂家,亦称实体显微镜或解剖镜。是一种具有正像立体感的目视仪器,激光开封机价格,---同角度观察物体,使双眼引起立体感觉的双目显微镜。对观察体无需加工制作,激光开封机,直接放入镜头下配合照明即---察,成像是直立的,便于操作和解剖。视场直径大,激光开封机公司,但观察物要求放大倍率在200倍以下。显微镜可用于电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制的辅助鉴别及各种物质表面观察等领域,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的观察分析、封装开帽后的检查分析和晶体管点焊检查等功能。< br />;< br />;著作权归作者所有。
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