元器件失效分析价格-江苏元器件失效分析-苏州特斯特公司

    phase12 热阻测试仪产自美国 ---ysis tech(anatech)公司，符合---标和 jedec 标准.

      ---ysis tech inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件---性测试的国际设计，制造公司。创始人 john w.sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点---性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点---性方面的. ---ysis tech inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全热阻测试仪这套设备有几百家客户.

      主要用于测试二极管，三极管，江苏元器件失效分析，线形调压器，可控硅，led，mosfet，mesfet ，igbt，元器件失效分析报价，ic 等分立功率器件的热阻测试及分析。

热阻测试仪加热电流和感应电流通过电子开关切换的方式轮流工作。每加热15秒，测量1次热敏参数，即获得1个结温值，测量完之后继续加热，加热15秒，再次测量结温值，如此反复工作。在这个过程中，系统将每次测量到的结温值和前面7个结温值进行比较，如果连续8个结温值相同，系统会判定器件达到热平衡，并计算出稳态热阻值。如果用户需要得到热阻热容曲线，只需要将电子开关锁定在测量端即可。此时，因为没有了加热电流，器件开始降温，通过监测器件电压可以得到一条温度下降的曲线，进而通过一系列数学变换得到热阻热容曲线以及瞬态热阻抗曲线。