微光显微镜侦测得到亮点之情况：会产生亮点的缺陷 - 漏电结（junction leakage）; 接触毛刺（contact spiking）; （热电子效应）hot electr;闩锁效应（ l---h-up）;氧化层漏电（ gate oxide defects / leakage(f-n current)）;多晶硅晶须（poly-silicon filaments）; 衬底损伤（substrate damage）; （物理损伤）mechanical damage等。原来就会有的亮点 - saturated/ active bipolar transistors; -saturated mos/dynamic cmos; forward biased diodes/reverse；biased diodes(break down) 等。
首先超声波扫描显微镜并非与光学扫描显微镜截然不同，它们之间的相同点是“显示被测样品的显微图像”，而后者是表面的显微图像，前者是内部显微图像；在一些特殊行业特殊领域中，正是需要超声波扫描显微镜的内部成像，精细研磨，从作用原理上光学镜为可见光，而超声波扫描显微镜自然是超声波。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，精细研磨机，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等---测试设备制造。
emmi (emission microscopy)是用来做故障点定位、寻找亮点、---(hot spot)的工具。其具备高灵敏度的制冷式电荷(光)耦合组件(c-ccd)侦测器，精细研磨仪器，可侦测组件中电子－电洞再结合时所发射出来的光子，其光波长在 350 nm ~ 1100 nm，此范围相当于可见光和红外光区。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，精细研磨机器，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。
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