




phase12 热阻测试仪产自美国 ---ysis tech(anatech)公司,符合---标和 jedec 标准.
---ysis tech inc.成立于 1983 年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件---性测试的国际设计,制造公司。创始人 john w.sofia 是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点---性,热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点---性方面的. ---ysis tech inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管,三极管,气密性检测厂家,线形调压器,可控硅,led,气密性检测,mosfet,mesfet ,igbt,ic 等分立功率器件的热阻测试及分析。
微焦点x射线
efpscan平面ct(又称ne ct),是面向pcb板和电子器件的ct检测系统,气密性检测系统,具有2d/2.5d/3d x-ray功能,可以离线检测和在线全检。 采用了---的computed laminography (cl)扫描模式和算法,具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。
扫描速度快
具备可编程的自动识别判断功能
可与产线配合,实现在线检测
pcb板、bga、csp、qfp、qfn
功率器件igbt
开焊、无浸润、气孔、偏移
气密性试验主要是检验容器的各联接部位是否有泄漏现象。介质毒性程度为极度、高度危害或设计上不允许有微量泄漏的压力容器,必须进密性试验。方法压力容器应按以下要求进密性试验:(1)气密性试验应在液压试验合格后进行。对设计要求作气压试验的压力容器,气密性试验可与气压试验同时进行,试验压力应为气压试验的压力。(2)碳素钢和低合金钢制成的压力容器,气密性检测装置,其试验用气体的温度应不低于5℃,其它材料制成的压力容器按设计图样规定。(3)气密性试验所用气体,应为干燥、清洁的空气、氮气或其他惰性气体。(4)进密性试验时,安全附件应安装齐全。(5)试验时压力应缓慢上升,达到规定试验压力后保压不少于30分钟,然后降至设计压力,对所有焊缝和连接部位涂刷肥皂水进行检查,以无泄漏为合格。如有泄漏,修补后重新进行液压试验和气密性试验。

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