漏电检测方法-金华漏电检测-特斯特

    phase12 热阻测试仪产自美国 ---ysis tech(anatech)公司，符合---标和 jedec 标准.

      ---ysis tech inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件---性测试的国际设计，制造公司。创始人 john w.sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点---性，金华漏电检测，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点---性方面的. ---ysis tech inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全热阻测试仪这套设备有几百家客户.

      主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，led，mosfet，mesfet ，漏电检测厂家，igbt，漏电检测方法，ic 等分立功率器件的热阻测试及分析。

一，ct检测

主要技术参数：

1、高电压：450kv

2、检测工件的大重量：60kg

3、扫描范围：大扫描区域直径：600mm，扫描高度：600mm

4、空间分辨率优于4lp/mm

5、密度分辨率优于0.5%

用途：用于产品缺陷检测、尺寸测量、密度分析、内部结构表征及反馈工程等。通过三维图像分析，可清晰、准确、直观地展示被测物体内部细节结构。