失效分析-特斯特-失效分析仪

热阻测试仪加热电流和感应电流通过电子开关切换的方式轮流工作。每加热15秒，测量1次热敏参数，失效分析，即获得1个结温值，测量完之后继续加热，加热15秒，再次测量结温值，如此反复工作。在这个过程中，系统将每次测量到的结温值和前面7个结温值进行比较，如果连续8个结温值相同，系统会判定器件达到热平衡，并计算出稳态热阻值。如果用户需要得到热阻热容曲线，只需要将电子开关锁定在测量端即可。此时，失效分析仪，因为没有了加热电流，器件开始降温，通过监测器件电压可以得到一条温度下降的曲线，进而通过一系列数学变换得到热阻热容曲线以及瞬态热阻抗曲线。

微焦点x射线检测

主要技术参数：

1、开放式球管射线源，高管电压160kv，大管电流1ma，大靶功率7w

2、焦点尺寸2μm

3、探测器倾斜角度为±70°，元器件失效分析，图像***100万像素，灰度等级为16位

4、载物台可绕旋转轴360度旋转

5、大可检测样品重量5kg

6、大可检测样品尺寸为

460mm×410mm×300mm

用途：可用于半导体产品、微电子元件、电路板焊接器件等电子产品焊点检测及多余物检测，也可进行小直径管焊缝检测。