失效分析设备-北京失效分析-苏州特斯特电子

phase12 可以测试 rja，rjc，rjb rjl 的热阻（测试原理符合 jedec51-1 定义的动态及静态测试

方法）

1） 瞬态阻抗(thermal impedance)测试，可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗

数据。

2） 稳态热阻(thermal resistance)各项参数的测试，其包括：rja，rjb，失效分析设备，rjc，rjl，北京失效分析， 当器件在给一定的工

作电流后。热量不断地向外扩散，达到了热平衡，这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达

到热平衡之前测试到的是热阻抗。

3） 可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。

4） 内部封装结构与其散热能力的相关性分析(structure function)。

5） 装片的分析(die attachment quality evaluation).

6） .多晶片器件的测试。

7.soa 图表生成

8.浪涌测试

需要考虑的是x射线束视场直径或称锥束角。 进行微焦点x射线检测，当焦距很近时，锥束角或视场范围非常重要。例如，失效分析仪器，25°锥角的微焦点x射线机的---次数要小于15°锥角的微焦点x射线机在检测相同范围时的---次数。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造。