




无损检测技术--sam将scanning acoustic microscope(sam)用于ic的封装扫描检测,轮廓检测,可以在不损伤封装的情况发现封装的内部缺陷。由于在很多时候不能打开封装来检查,轮廓检测装置,即使打开很可能原来的缺陷已经被破坏。利用超声波的透射、反射特性可以---解决这个问题。超声波在不同介质中的传播速率不同。

(超声波扫描显微镜)无损检测
超声扫描显微镜是一种利用超声波为传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查材料内部的晶格结构,轮廓检测,杂质颗粒、夹杂物、沉淀物、内部裂纹、分层缺陷、空洞、气泡、空隙等。< br />;< br />;著作权归作者所有。
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4探头超声波扫描显微镜分析系统,
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