




热阻测试仪应用范围:各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率igbt、mosfet、led等器件。 各种复杂的ic以及mcm、sip、soc等新型结构 。 各种复杂的散热模组的热特性测试,如热管、风扇等。 半导体器件结温测量。 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数。 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断,pcba飞针测试,帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。 材料热特性测量(导热系数和比热容)。 接触热阻测量,湖南飞针测试,包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。

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主要技术参数:
1、高电压:450kv
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3、扫描范围:大扫描区域直径:600mm,扫描高度:600mm
4、空间分辨率优于4lp/mm
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用途:用于产品缺陷检测、尺寸测量、密度分析、内部结构表征及反馈工程等。通过三维图像分析,可清晰、准确、直观地展示被测物体内部细节结构。

气密性试验与气压试验是不一样的。首先,它们的目的不同,气密性试验是检验压力容器的严密性,飞针测试价格,气压试验是检验压力容器的耐压强度。其次试验压力不同,飞针测试设备,气密性试验压力为容器的设计压力,气压试验压力为设计压力的1.15倍。我们生活当中的许多产品都需要做气密性试验,在北京主要有航天环境---性与检测中心;梓恺环境---性与电磁兼容试验中心;航天3院3部,无线电厂等可以做。

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