失效分析仪-苏州特斯特电子-镇江失效分析

    phase12 热阻测试仪产自美国 ---ysis tech(anatech)公司，符合---标和 jedec 标准.

      ---ysis tech inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件---性测试的国际设计，制造公司。创始人 john w.sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点---性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点---性方面的. ---ysis tech inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全热阻测试仪这套设备有几百家客户.

      主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，led，失效分析仪器，mosfet，mesfet ，igbt，ic 等分立功率器件的热阻测试及分析。

热阻电性规格：

加热电流测量精度（低电流测量: 0.2， 1 和2 安培测量）

2a 系统: ±1ma 10a 系统: ±5ma 20a 系统: (±10ma)

加热电流测量精度（高电流测量: 2， 10 和20 安培测量）:

2a 系统: ±4ma 10a 系统: ±20ma 20a 系统: (±40ma)

加热电压测量精度: ±0.25% ，设备失效分析，0~30v

热电偶测量精度(t 型): 典型 ±0.1°c

交流电压：220vac，10a，50/60hz

器件的测试的供电电压： 20v（标配），其他的是选配。

器件的测试的供电电流： 30a(标配)，选配（100a 200a，镇江失效分析，400a，800a，1000a及更高电流）

节温的感应电流：1ma， 5ma， 10ma， 20ma， 50ma(标配)，100ma，500ma，1000ma，2500ma是选配。

数据采样频率1mhz

结温精度±0.1°c 分辨率：±0.007°c。