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半导体常用失效分析检测仪器;

显微镜分析om无损检测

金相显微镜om：可用来进行器件外观及失效部位的表面形状，尺寸，结构，轮廓检测设备价格，缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机（数码相机）通过光电转换有机的结合在一起，轮廓检测，不仅可以在目镜上作显微观察，还能在计算机（数码相机）显示屏幕上观察---图像，电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。金相显微镜可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及---工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用，轮廓检测报价，实现样品外观、形貌检测  、制备样片的金相显微分析和各种缺陷的查找等功能。

（超声波扫描显微镜)无损检测

超声扫描显微镜是一种利用超声波为传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查材料内部的晶格结构，杂质颗粒、夹杂物、沉淀物、内部裂纹、分层缺陷、空洞、气泡、空隙等。< br />;< br />;著作权归作者所有。

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