热阻测试仪是的热测试仪，用于测试ic、led、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于的测试方法，通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，仪器测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的的热特性。仪器测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而热阻测试仪采用的是“运行中”的实时测量的方法，x-ray检测机，结合其精密的硬件可以快速扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。
phase12 热阻测试仪产自美国 ---ysis tech(anatech)公司，符合---标和 jedec 标准.
---ysis tech inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，甘肃x-ray检测，是电子封装器件---性测试的国际设计，制造公司。创始人 john w.sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点---性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点---性方面的. ---ysis tech inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，x-ray检测设备厂家，可控硅，led，mosfet，mesfet ，igbt，ic 等分立功率器件的热阻测试及分析。
热阻测试仪加热电流和感应电流通过电子开关切换的方式轮流工作。每加热15秒，测量1次热敏参数，即获得1个结温值，测量完之后继续加热，加热15秒，再次测量结温值，如此反复工作。在这个过程中，系统将每次测量到的结温值和前面7个结温值进行比较，如果连续8个结温值相同，系统会判定器件达到热平衡，并计算出稳态热阻值。如果用户需要得到热阻热容曲线，只需要将电子开关锁定在测量端即可。此时，因为没有了加热电流，器件开始降温，通过监测器件电压可以得到一条温度下降的曲线，进而通过一系列数学变换得到热阻热容曲线以及瞬态热阻抗曲线。
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