x-ray检测仪-苏州x-ray检测-苏州特斯特电子

微焦点x射线检测

主要技术参数：

1、开放式球管射线源，高管电压160kv，大管电流1ma，大靶功率7w

2、焦点尺寸2μm

3、探测器倾斜角度为±70°，x-ray检测机，图像***100万像素，灰度等级为16位

4、载物台可绕旋转轴360度旋转

5、大可检测样品重量5kg

6、大可检测样品尺寸为

460mm×410mm×300mm

用途：可用于半导体产品、微电子元件、电路板焊接器件等电子产品焊点检测及多余物检测，也可进行小直径管焊缝检测。

热阻分析仪，如果应用于材料叫材料热阻分析仪，如果用于半导体分立器件称为半导体热阻分析仪，进行热测量半导体封装设备使用电交界处的温度测量方法。这些热测试包括稳态热阻，瞬态热阻抗，和芯片粘接检查。组件测试服务可以为半导体热表征客户装置在我厂实验室做测试。我们还提供完整系列的配件，半导体器件的热特性对所有类型的设备从集成电路分立功率器件。所有产品符合美准和适用。主要用于测试二极管，苏州x-ray检测，三极管，led二极管，可控硅，mosfet，igbt，ic等分离功率器件的热阻测试。




气密性试验与气压试验是不一样的。首先，x-ray检测仪，它们的目的不同，气密性试验是检验压力容器的严密性，气压试验是检验压力容器的耐压强度。其次试验压力不同，气密性试验压力为容器的设计压力，x-ray检测价格，气压试验压力为设计压力的1.15倍。我们生活当中的许多产品都需要做气密性试验，在北京主要有航天环境---性与检测中心；梓恺环境---性与电磁兼容试验中心；航天3院3部，无线电厂等可以做。







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