




侦测到亮点之情况;
会产生亮点的缺陷:1.漏电结;2.解除毛刺;3.热电子效应;4闩锁效应; 5氧化层漏电;6多晶硅须;7衬底损失;8.物理损伤等。 侦测不到亮点之情况 不会出现亮点之故障:1.亮点位置被挡到或遮蔽的情形(埋入式的接面及 大面积金属线底下的漏电位置);2.欧姆接触;3.金属互联短路;4.表面 反型层;5.硅导电通路等。
点被遮蔽之情况:埋入式的接面及大面积金属线底下的漏电位置,这种情 况可采用backside模式,但是只能探测近红外波段的发光,超声检测服务,且需要减薄及 抛光处理。
超声波扫描显微镜,英文名是:scanning acoustic microscope,超声检测系统,简称sam,由于它的主要工作模式是c模式,因此也简称:c-sam或sat。北软检测sat频率高于20khz的声波被称为超声波。超声波扫描显微镜是理想的无损检测方式,广泛的应用在物料检测(iqc)、失效分析(fa)、控制(qc)、及---性(qa/rel)、研发(r&d)等领域。检测电子元器件、led、金属基板的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等);通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。

超景深显微镜工作距离长,清晰范围大,附件齐全操作方便。可广泛应用于卫生,农林地质,电子精密机械等行业和部门,超声检测,---适合于led,pcb检验,冲压电镀检验,电子元件检验。超景深显微镜观察物体时能产生正立的三维空间像,立体感强,成像清晰和宽阔,具有较长的工作距离是适用范围非常广泛的常规显微镜。欢迎来电咨询!

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