




微光显微镜侦测不到亮点之情况:不会出现亮点的故障 - 欧姆接触;金属互联短路;表面反型层;硅导电通路等。亮点被遮蔽之情况 - buried juncti及leakage sites under metal,这种情况可以采用backside模式,但是只能探测近红外波段的发光,且需要减薄及抛光处理。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,精密制样,产品涵盖电子元器件,精密制样设备价格,电路板,线缆线束的测试与检测。

无损检测技术--sam将scanning acoustic microscope(sam)用于ic的封装扫描检测,可以在不损伤封装的情况发现封装的内部缺陷。由于在很多时候不能打开封装来检查,即使打开很可能原来的缺陷已经被破坏。利用超声波的透射、反射特性可以---解决这个问题。超声波在不同介质中的传播速率不同。

体视显微镜om无损检测
体视显微镜,亦称实体显微镜或解剖镜。是一种具有正像立体感的目视仪器,---同角度观察物体,精密制样仪器,使双眼引起立体感觉的双目显微镜。对观察体无需加工制作,直接放入镜头下配合照明即---察,成像是直立的,精密制样设备报价,便于操作和解剖。视场直径大,但观察物要求放大倍率在200倍以下。显微镜可用于电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制的辅助鉴别及各种物质表面观察等领域,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的观察分析、封装开帽后的检查分析和晶体管点焊检查等功能。< br />;< br />;著作权归作者所有。
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