主要特点： 1、仪器符合jedec jesd51-1和mil-std-750e标准法规。 2、仪器---jesd51-1定义的静态测试法与动态测试法，能够实时器件瞬态温度响应曲线，元器件失效分析，其采样率---1微秒，测试---时间---1微秒，杭州失效分析，结温分辨率---0.01℃。 3、能测试稳态热阻，也能测试瞬态热阻抗。 4、的分析法，能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能，构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、---性试验、材料热特性以及接触热阻的---支持工具。因此被誉为热测试中的“x射线”。 5、可以和热软件floefd无缝结合，将实际测试得到的器件热学参数导入软件进行后续优化。
phasc12测试来的数据，器件有四个层次。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面tau是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一-个拐点 都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏，对不同厂家同类产品而言，失效分析仪，可以让我们选择热阻值---的厂家;同时它也可以检测同- ~厂家，同类产品，不同批次的差异，从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，失效分析仪器，可控硅，led， mosfet，mesfet ，igbt，ic等分立功率器件的热阻测试及分析。
需要考虑的是焦点到x射线管窗口外表面的距离，它决定了被检样品到焦点的小距离。 这一参数的重要性在于它决定了一个微焦点系统可能达到的大放大倍数。 由于防护设施空间的局限以及射线的衰减与距离的平方成反比（i/r2 ），我们无法随意拉长胶片或探测器到射线源的距离以增大放大倍数。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造。
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