emmi可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷(gate oxide defects)、静电放电破坏(esd failure)、闩锁效应(l---h up)、漏电(leakage)、接面漏电(junction leakage) 、顺向偏压(forward bias)及在饱和区域操作的晶体管，嘉兴3d显微镜，可藉由emmi定位，找---(hot spot 或找亮点)位置，进而得知缺陷原因，3d显微镜设备，帮助后续进一步的失效分析。
emmi侦测的到亮点、---(hot spot)情况；原来就会有的亮点、---(hot spot)饱和区操作中的bjt或mos(saturated/active bipolar transistors /saturated mos)动态式cmos (dynamic cmos)二极管顺向与逆向偏压崩溃 (forward biased diodes /reverse biased diodes breakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(ohmic short / metal short)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(buried juncti)金属线底下的漏电区(leakage sites under metal)
4探头超声波扫描显微镜分析系统，
3d显微镜设备-苏州特斯特(在线咨询)-嘉兴3d显微镜由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司为客户提供“失效分析设备,检测服务,检测仪器”等业务，公司拥有“特斯特”等品牌，---于分析仪器等行业。，在苏州工业园区新平街388号腾飞---园23幢5层04室5529c号房间的名声---。欢迎来电垂询，联系人：宋作鹏。
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