




半导体常用失效分析检测仪器;
显微镜分析om无损检测
金相显微镜om:可用来进行器件外观及失效部位的表面形状,尺寸,结构,缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换有机的结合在一起,河北超声检测,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机(数码相机)显示屏幕上观察---图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。金相显微镜可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及---工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用,超声检测仪器,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的金相显微分析和各种缺陷的查找等功能。
4探头超声波扫描显微镜分析系统,
无损检测技术--sam将scanning acoustic microscope(sam)用于ic的封装扫描检测,可以在不损伤封装的情况发现封装的内部缺陷。由于在很多时候不能打开封装来检查,即使打开很可能原来的缺陷已经被破坏。利用超声波的透射、反射特性可以---解决这个问题。超声波在不同介质中的传播速率不同。

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