元器件失效分析设备-苏州特斯特电子-黑龙江元器件失效分析

phase12 可以测试 rja，rjc，rjb rjl 的热阻（测试原理符合 jedec51-1 定义的动态及静态测试

方法）

1） 瞬态阻抗(thermal impedance)测试，可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗

数据。

2） 稳态热阻(thermal resistance)各项参数的测试，黑龙江元器件失效分析，其包括：rja，rjb，rjc，rjl，电子元器件失效分析， 当器件在给一定的工

作电流后。热量不断地向外扩散，达到了热平衡，元器件失效分析设备，这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达

到热平衡之前测试到的是热阻抗。

3） 可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。

4） 内部封装结构与其散热能力的相关性分析(structure function)。

5） 装片的分析(die attachment quality evaluation).

6） .多晶片器件的测试。

7.soa 图表生成

8.浪涌测试

微焦点技术的优势

1、 通过使被透照物体靠近射线源，远离胶片，获得放大的原始细节图像。减轻检测疲劳。

2、 对于一定厚度的被透照物体，微焦点可以放大被检测物的细节提供更一致的清晰度。

微焦点x射线设备具备图像放大，元器件失效分析价格，提高空间分辨力，减少散射的能力，从而使它成为工业ct系统的理想射线源。

x-ray worx gmbh是德国---研发型公司，研发了具有灵活性、稳定性、超---的开放式微焦点x射线管，分为透射式微焦点x射线管、反射式微焦点x射线管、头x射线管和棒阳极微焦点x射线管。可根据不同的应用，选择不同的靶功率（10w、15w、25w、50w、300w等）和电压（65w、100kv、160kv、190kv、225kv、240kv和300kv等）。