emmi侦测的到亮点、---(hot spot)情况；原来就会有的亮点、---(hot spot)饱和区操作中的bjt或mos(saturated/active bipolar transistors /saturated mos)动态式cmos (dynamic cmos)二极管顺向与逆向偏压崩溃 (forward biased diodes /reverse biased diodes breakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(ohmic short / metal short)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(buried juncti)金属线底下的漏电区(leakage sites under metal)
emmi (emission microscopy)是用来做故障点定位、寻找亮点、---(hot spot)的工具。其具备高灵敏度的制冷式电荷(光)耦合组件(c-ccd)侦测器，精细研磨机，可侦测组件中电子－电洞再结合时所发射出来的光子，精细研磨，其光波长在 350 nm ~ 1100 nm，此范围相当于可见光和红外光区。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，精细研磨设备价格，线缆线束的测试与检测。
emmi可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流，精细研磨仪器，包括闸极氧化层缺陷(gate oxide defects)、静电放电破坏(esd failure)、闩锁效应(l---h up)、漏电(leakage)、接面漏电(junction leakage) 、顺向偏压(forward bias)及在饱和区域操作的晶体管，可藉由emmi定位，找---(hot spot 或找亮点)位置，进而得知缺陷原因，帮助后续进一步的失效分析。
精细研磨仪器-精细研磨-特斯特(查看)由苏州特斯特电子科技有限公司提供。行路致远，---。苏州特斯特电子科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的---，更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息，谢谢！
本文链接：https://tztz333537.zhaoshang100.com/zhaoshang/278927700.html
关键词：
滇公网安备 53011202000392号