当前位置： 首页> 商机信息
 
商机信息
信息标题 苏州特斯特-高速烧录器厂家-衢州高速烧录器
发布时间 2024-6-12
微光显微镜侦测得到亮点之情况：会产生亮点的缺陷 - 漏电结（Junction Leakage）; 接触毛刺（Contact spiking）; （热电子效应）Hot electr;闩锁效应（
信息标题 泄漏检测系统-湖北泄漏检测-苏州特斯特公司
发布时间 2024-6-12
　热阻测试仪应用范围：各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。　　各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等
信息标题 化学开封机报价-化学开封机-苏州特斯特电子
发布时间 2024-6-12
EMMI侦测的到亮点、热点(Hot Spot)情况；原来就会有的亮点、热点(Hot Spot)饱和区操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transi
信息标题 超声扫描显微镜报价-特斯特电子科技公司-黑龙江超声扫描显微镜
发布时间 2024-6-12
红外光显微镜是一种利用波长在800nm到20μm范围内的红外光作为像的形成者，超声扫描显微镜厂商，用来观察某些不透明物体的显微镜。这种显微镜在生物学中的用途远远比不上紫外光显微镜。在技术上使用
信息标题 漏电点定位公司-海南漏电点定位-苏州特斯特
发布时间 2024-6-12
无损检测就是Non Destructive Testing，缩写是NDT（或NDE，non-destructive examination），也叫无损探伤，漏电点定位价格，是在不损害或不影响被
信息标题 苏州特斯特电子-元器件失效分析公司-浙江元器件失效分析
发布时间 2024-6-12
无损检测是利用物质的声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷大小，位置，性质和数量等信息。与破坏性检测相比，无损检测有以
信息标题 3D显微镜设备-苏州特斯特-嘉兴3D显微镜
发布时间 2024-6-11
EMMI可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷(Gate oxide defects)、静电放电破坏(ESD Failure)、闩锁效应(Latch Up)、漏电(Le
信息标题 精细研磨仪器-苏州特斯特-精细研磨
发布时间 2024-6-11
微光显微镜侦测得到亮点之情况：会产生亮点的缺陷 - 漏电结（Junction Leakage）; 接触毛刺（Contact spiking）; （热电子效应）Hot electr;闩锁效应（
信息标题 PCBA飞针测试-杭州飞针测试-特斯特
发布时间 2024-6-11
所谓的微焦点X射线机是焦点尺寸可以达到几个微米，并且能够在0～225kV或更高恒电压模式下，以一定的功率（通常高为320W）连续工作的X射线机。 微焦点X射线机的焦点尺寸通常可以连续可调，飞针
信息标题 激光开封机公司-特斯特电子科技公司-激光开封机
发布时间 2024-6-11
显微观察技术是一-种可以提供化学键合以及材料的分子结构的相关信息的失效分析技术，不论对象是有机物还是无机物。通常被用来确定样品表面的未知材料，一般是用作对EDX分析的补充。苏州特斯特电子科技有
上一页 [1]... [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] ...下一页
页次：29/385　10条/页　共3848条