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商机信息
信息标题 开封机-特斯特电子科技公司-化学开封机价格
发布时间 2024-7-30
芯片失效分析步骤:1、非破坏性分析：主要是超声波扫描显微镜（C-SAM）--看有没delamination，xray--看内部结构，等等；2、电测：主要工具，激光开封机，万用表，示波器， te
信息标题 苏州特斯特公司-漏电点定位价格-陕西漏电点定位
发布时间 2024-7-30
无损检测已不再是仅仅使用X 射线，包括声、电、磁、电磁波、中子、激光等各种物理现象几乎都被用做于了无损检测，譬如：超声检测、涡流检测、磁粉检测、射线检测、渗透检测、目视检测、红外检测、微波检测
信息标题 失效分析仪-失效分析-苏州特斯特公司
发布时间 2024-7-30
微焦点X射线   EFPscan平面CT（又称plane CT），是面向PCB板和电子器件的CT检测系统，具有2D/2.5D/3D X-ray功能，失效分析，可以离线检测和
信息标题 气密性检测价格-上海气密性检测-苏州特斯特电子
发布时间 2024-7-30
PHASE12 可以测试Rja，Rjc，Rjb Rjl 的热阻。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面Tau 是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一个拐点都表明热进
信息标题 3D显微镜哪家好-镇江3D显微镜-苏州特斯特电子
发布时间 2024-7-30
超声波显微镜在失效分析中的应用   晶圆面处分层缺陷 锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）。超声波显微镜的在失效分析中的优势非破
信息标题 共聚焦显微镜生产厂家-特斯特电子科技公司-连云港共聚焦显微镜
发布时间 2024-7-30
微光显微镜侦测得到亮点之情况：会产生亮点的缺陷 - 漏电结（Junction Leakage）; 接触毛刺（Contact spiking）; （热电子效应）Hot electr;闩锁效应（
信息标题 漏气检测-特斯特-漏气检测价格
发布时间 2024-7-29
　热阻测试仪是的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于的测试方法，通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，仪器测试出芯片的瞬态温度响
信息标题 化学开封机多少钱-化学开封机-苏州特斯特公司
发布时间 2024-7-29
微光显微镜侦测得到亮点之情况：会产生亮点的缺陷 - 漏电结（Junction Leakage）; 接触毛刺（Contact spiking）; （热电子效应）Hot electr;闩锁效应（
信息标题 激光开封机-激光开封机厂家-苏州特斯特(推荐商家)
发布时间 2024-7-29
EMMI (Emission Microscopy)是用来做故障点定位、寻找亮点、热点(Hot Spot)的工具。其具备高灵敏度的制冷式电荷(光)耦合组件(C-CCD)侦测器，可侦测组件中电子
信息标题 精密制样设备价格-精密制样-苏州特斯特电子
发布时间 2024-7-29
微光显微镜emmi检测和emmi分析解说通常第三方检测实验室用户对emmi检测需要了解哪些内容呢？首先在分析故障的时候利用微光显微镜，它的主要特点是效率非常高，精密制样，主要侦测IC内部所发射
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